Please use this identifier to cite or link to this item: https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/1268
Title: Математична модель кінетики точкових дефектів в напівпровідниках при дії оптичного випромінювання
Other Titles: Mathematical model of the kinetics of point defects in semiconductors under the action of optical radiation
Authors: Острей, Сергій Вікторович
Ostrei, Serhii V.
Bibliographic description (Ukraine): Острей С. Математична модель кінетики точкових дефектів в напівпровідниках при дії оптичного випромінювання /С.Острей //Матеріали 4 міжнародної конференції «Релаксаційні, нелінійні й акустооптичні процеси та матеріали» - РНАОПМ – 2008, С.112-118.
Issue Date: Jun-2008
Date of entry: 29-May-2013
Publisher: Волинський національний університет ім. Лесі Українки
Keywords: модель
кінетика
оптика
дефекти
відпал
лазер
енергія
model
kinetics
optics
defects
annealing
laser
energy
Abstract: Описуються процеси руйнування та відновлення кристалічних структур під впливом короткотривалих лазерних імпульсів. Розглядаються математичні моделі процесів формування напівпровідника з заданими наперед властивостями. The process of destruction and renewal of crystal structures under the influence of short-term laser pulses are describe. The mathematical model of the formation of the semiconductor properties specified in advance are consider.
Description: Острей Сергій Вікторович – старший викладач кафедри прикладної математики та інформатики Східноєвропейського національного університету ім. Лесі Українки
URI: http://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/1268
Content type: Article
Appears in Collections:Наукові роботи (FITM)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Ostrey_rnaopm_08.pdf1,91 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.