Please use this identifier to cite or link to this item:
https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/5397
Title: | Вплив ультразвуку на відпал радіаційних дефектів у нейтронно-легованому кремнії |
Other Titles: | PodoInfluence an Ultrasound on Annealing of Radiation Defects in to Neutron-Alloyed Silicon. |
Authors: | Подолян, А. О. Podolyan, A. O. |
Bibliographic description (Ukraine): | Подолян, А. О. Вплив ультразвуку на відпал радіаційних дефектів у нейтронно-легованому кремнії / А. О. Подолян // Науковий вісник Волинського національного університету ім. Лесі Українки / Волин. нац. ун-т ім. Лесі Українки ; редкол.: Г. Є. Давидюк [та ін.]. – Луцьк, 2012. – № 16(241) : Фізичні науки. – С. 46-50. – Бібліогр.: с. 49-50. |
Issue Date: | 2012 |
Date of entry: | 11-Jun-2015 |
Publisher: | Східноєвропейський національний університет ім. Лесі Українки |
Keywords: | нейтронно-легований кремній радіаційні дефекти neutron-transmutation-doped silicon radiation defects |
Abstract: | Шляхом вимірювання часу життя носіїв заряду досліджено вплив термічної та ультразвукової обробок на концентрацію точкових радіаційних дефектів в -опроміненому нейтронно-легованому кремнії. Виявлено, що ультразвук суттєво змінює характер відпалу радіаційних дефектів в інтервалі температур 160 240 0 С. Цей ефект пояснюється стимульованими ультразвуком процесами перебудови точкових дефектів в околі домішково-дефектних скупчень. ; The effects of heat and ultrasound treatment on the concentration of point defects in -irradiated neutrontransmutation-doped silicon were studied by measuring minority carrier lifetimes. It was found that the ultrasound substantially changes the annealing behavior of point defects at temperatures 160 240 0 С. This can be explained by the ultasonically stimulated rearrangements of point defects in the vicinity of defect -impurity clusters. |
URI: | http://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/5397 |
Content type: | Article |
Appears in Collections: | Серія "Фізичні науки", 2012, № 16 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.