Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/6181
Назва: Фазові рівноваги в системах Tl2S(Se)–HgS(Se)–SnS(Se)2 при 520К
Інші назви: Interaction of the Components in Tl2S(Se)–HgS(Se)–SnS(Se)2 Systems at 520 K.
Автори: Олексеюк, І. Д.
Мозолюк, М. Ю.
Піскач, Л. В.
Парасюк, О. В.
Olekseyuk, I. D.
Mozolyuk, M. Y.
Piskach, L. V.
Parasyuk, O. V
Бібліографічний опис: Фазові рівноваги в системах Tl2S(Se)-HgS(Se)-SnS(Se)2 при 520К / І. Д. Олексеюк, М. Ю. Мозолюк, Л. В. Піскач, О. В. Парасюк // Науковий вісник Волинського національного університету ім. Лесі Українки / Волин. нац. ун-т ім. Лесі Українки ; [редкол.: І. Д. Олексеюк та ін.]. – Луцьк, 2010. – № 30 : Хімічні науки. – С. 19-21. – Бібліогр.: 12 назв.
Дата публікації: 2010
Дата внесення: 2-лип-2015
Видавництво: Волинський національний університет імені Лесі Українки
Теми: халькогеніди талію
кристалічна структура
рентгенівська порошкова дифрактометрія
thallium chalcogenides
crystal structure
X-ray powder diffraction
Короткий огляд (реферат): Вивчено взаємодію між компонентами в системах Tl2Х–HgХ–SnХ2 (Х – S, Se) при 520 К за результатами рентгенівської порошкової дифрактометрії. У системах встановлено утворення тетрарних сполук Tl2HgSnS4 та Tl2HgSnSe4, які кристалізуються в ПГ = I _4 2m з параметрами елементарної комірки a = 0,78586(3), c = 0,67005(3) нм і a = 0,79947(4), c = 0,67617(4) нм відповідно. Interaction of the components in Tl2S(Se)–HgS(Se)–SnS(Se)2 systems at 520 K has been determined using X-ray powder diffraction. The formation of the Tl 2HgSnS4 and Tl2HgSnSe4 (SG I _4 2m; a = 0,78586(3), c = 0,67005(3) nm and a = 0,79947(4), c = 0,67617(4) nm) compounds in the respective systems have been established.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://evnuir.vnu.edu.ua/handle/123456789/6181
Тип вмісту: Article
Розташовується у зібраннях:Серія "Хімічні науки", 2010, № 30

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Oleksey2.pdf119,62 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.